SPC
1、统计技术概述
＊什么是SPC
＊统计学
＊SPC的起源
＊SPC的发展历程
＊SPC的作用和特点
2、基本的统计概念
＊基本术语
＊正态分布
＊主要统计参数
3、统计过程控制原理
＊两种过程控制模型和控制策略
＊具有反馈的过程控制模型
＊两种模型的比较
＊两种变差原因
＊两种过程状态
＊两种控制措施
＊两种质量观
＊四类过程及对策
＊持续改进过程循环
＊过程的持续改进
＊计量型数据过程能力理解
＊过程能力指数计算不合格品率
4、控制图
＊控制图的概念
＊控制图的作用
＊控制图分类
＊控制图的用途
＊控制图的用途
＊控制图应用的一般程序
＊控制用控制图的日常管理
＊控制用控制图判断准则
5、计量型数据控制图
＊X-R
6、计数型数据控制图简介
＊P图
7、案例练习
MSA
1、引言
＊数据的用途
＊数据的类型
＊测量系统的统计特性
＊什么是“好”的测量系统
＊数据的质量
＊检定或校准能不能代替测量系统分析
2、基本的统计概念
＊测量
＊量具
＊分辨力（率）
＊可视分辨率
＊有效分辨率
＊数据
＊测量系统
＊测量过程
＊测量误差
＊朔源性
＊偏倚
＊线性
＊稳定性
＊重复性
＊再现性
＊数据分级数
3、测量系统分析（MSA）基础
＊ISO/TS16949与MSA
＊进行测量系统分析时应具备的条件
＊测量系统变差的类型
＊测量系统的变差
＊测量系统分析的时机
＊测量系统分析的作用
＊测量系统分析的准备＊
＊测量系统分析的接收准则
＊测量系统分析执行注意点
＊测量系统分析实施流程
4、测量系统的分析实施
＊MSA方法的分类
＊计量型测量系统分析
测量系统的偏倚
测量系统的线性分析
测量系统的稳定性
量具R&R分析（均值-极差法）
＊计数型测量系统分析
假设检验分析─交叉表方法
5、案例练习
